НАДЁЖНОСТЬ

Стенды испытаний на надёжность предназначены для испытаний полупроводниковых изделий и интегральных микросхем на электротермотренировку и безотказность при повышенных температурах в соответствии с требованиями: ГОСТ РВ 20.57.416-97, ГОСТ РВ 5962-004-2012, ГОСТ В 28146-89,ГОСТ Р 57394-2017 ОСТ В II 0219-85, ГОСТ В 26854-86

Таблица 1
Стенды испытаний на надёжность. Руководство по выбору

Краткое описание
Стенд для испытаний мощных тепловыделяющих изделий
Стенд для испытаний большого количества изделий
Лабораторный стенд для испытаний широкой номенклатуры ЭКБ
Универсальная испытательная платформа для испытаний нестандартной ЭКБ
Основные особенности
Индивидуальное терморегулирование испытываемых изделий. Испытания мощной силовой электроники
Высокая производительность
Легкость настройки, смен типов испытываемых изделий
Универсальность. Возможность доработки для испытаний широкой номенклатуры изделий
Управление
Автоматизированное
Автоматизированное
ручное
ручное
Диапазон температур
-60…+155 °С
50-155 °С
50-200 °С
50-200 °С
Вариация температуры в полезном объёме камеры
не более ±2 °С
не более ±2 °С
не более ±2 °С
не более ±2 °С
Количество испытательных плат
Испытательные платы отсутствуют. Тестируемые изделия располагают в индивидуальных слотах на рабочем столе
До 32
12
16 универсальных слотов
Размер испытательной платы, мм
607х304
200х170
ВКоличество одновременно испытываемых изделий
До 48
До 3200
64
16
Терморегулирование корпуса испытываемого изделия
да
Нет (да)
нет
нет
Яндекс.Метрика